二次圖像測量儀的測量原理
1.基本測量原則
在實際測量中，同一被測對象可以采用多種測量方法。為了降測量不確定度，應盡可能遵守以下基本測量原則:
(1)阿貝原理:測量過程中被測長度和參考長度應放在同一條直線上的原理。如果被測長度與基準長度并排放置，在測量和比較過程中，由于制造誤差、移動方向的偏差以及兩個長度之間的夾角，會產生較大的誤差。誤差不僅與兩個長度之間的角度有關，還與它們之間的距離有關。距離越大，誤差越大。
(2)基準統(tǒng)一原則:測量基準應與加工基準和使用基準統(tǒng)一。即工藝測量應以工藝基準為測量基準，終檢驗量以設計基準為測量基準。
2.短鏈原則
在間接測量中，與被測量有函數(shù)關系的其他量與被測量形成測量鏈。形成測量鏈的環(huán)節(jié)越多，需要測量的不確定性就越大。因此，應盡可能減少測量鏈中的環(huán)節(jié)數(shù)，以保證測量精度，這被稱為短鏈原則。當然，根據這個原理，用直接測量代替間接測量更好。因此，間接測量僅在無法使用直接測量或直接測量的精度無法保證時使用。短鏈原則的實際應用是，應使用少數(shù)量的量塊來形成所需尺寸的量塊組。小變形原則:由于實際溫度與標準溫度和應力(重力和測量力)的偏差，測量儀器和被測零件都會變形，導致測量誤差。測量過程中，控制測量溫度及其變化，保證測量儀器與被測零件有足夠的等溫時間，選擇與被測零件線膨脹系數(shù)相近的測量儀器，選擇合適的測量力并保持穩(wěn)定，選擇合適的支撐點等。，都是實現(xiàn)小變形原則的有效措施。
率先在國內推出電動數(shù)控自動測量圖像繪圖儀；
突破硬件的限制，實現(xiàn)純軟件功能的無光柵工作平臺(多國專利)，并“解決”了大多數(shù)其他廠商無法解決的阿貝誤差、遲滯誤差等機械誤差；
創(chuàng)建虛擬夾具的專利功能，即使你的夾具不標準，依然可以做高精度的矩陣陣列測量、圓陣列測量和二次編程測量；
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打造多鏡頭聯(lián)動，實現(xiàn)精準測高功能(專利)。該技術“解決”了影像測量儀器無法快速準確測量身高的難題；
創(chuàng)建旋轉照明(專利)，以“解決”各種困難的光學測量。
